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半导体器件寿命测试

来源:极速体育nba直播极速体育    发布时间:2024-09-03 21:56:40
激光器的应用领域愈来愈普遍,其可靠性很重要,且寿命是衡量可靠性的重要指标之一。然而,大功率激光器的工作寿命还没有一个国际标准定义,也没有标准的加速检测的新方法。大量长寿命的无Al激光器的高温加速老
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  激光器的应用领域愈来愈普遍,其可靠性很重要,且寿命是衡量可靠性的重要指标之一。然而,大功率激光器的工作寿命还没有一个国际标准定义,也没有标准的加速检测的新方法。大量长寿命的无Al激光器的高温加速老化寿命试验也是在假定了激活能的基础上进行的,这样做试验由于不知道不确定失效的机理,得到的寿命数据也是不能令人信服的。本文基于加速寿命试验的基本概念,参考普通寿命测试方法,通过两次高温加速老化,绘制激光器的老化曲线,计算出激活能,然后利用所求的激活能通过统计学的方法,反推出室温下

  本试验分别在40、80℃下对20只随机抽取的波长808 nm的无Al连续输出功率为1 W的单管激光器进行1.2 A恒流老化。老化前抽出10只在室温下进行P-I-Y测试,如图1所示。

  加速老化试验过程分两个方面一起进行,一半器件半导体激光器功率老化设备做40℃(不控温)下的老化,由探测器定时自动采集光功率相对值并由电脑记录;另外一半放置于温度设定为80℃的高低温试验箱中通过探测器手工定时采集激光器的功率。两次试验电流恒定控制为1.2 A。图2和图3为老化过程中的功率退化曲线。

  试验中规定相对功率下降30%为激光器失效时间。40℃下的中位寿命为3 000 h;80℃下的中位寿命为330 h。器件失效从根本上讲都是基本的物理化学过程,而温度对于许多物理化学过程来讲都是一个主要的因素,温度上升以后,这些变化过程大大加快,器件失效过程被加速,试验总结出阿列尼乌斯(Arrhenius)经验公式

  式中,L为寿命,Ea为激活能,A为常数,k(8.62×10-5eV/K)为波尔兹曼常数,T为热力学温度。确定了失效模式的激活能以后,就能得出加速系数。设室温T0下寿命为L0,加速试验中温度T1下寿命为L1,温度T2下的寿命为L2(T2T1),则激活能的计算式为

  不一样的温度下Ea与的关系如图4所示,不同温度下,温度越高,曲线斜率越大,加速效果越明显;相同温度下,激活能越大,加速系数越大。由于失效机理不同,激活能也不一样。

  由MIC5158与一些其他器件构成的5V输入、3.3V/10A输出并且具有短路保护功能的线

  YMTC芯片制造商的首席执行官表示,中国将在3到5年内迎来“爆炸性”半导体增长

  MIC5158与一些其他器件构成的5V输入、3.3V/10A输出并且具有短路保护功能的线

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